變頻介(jie)質(zhi)損耗測試(shi)儀(yi)(yi)參數(shu)是發(fa)電(dian)(dian)廠(chang)、變電(dian)(dian)站等現場或實(shi)驗室測試(shi)各種高(gao)(gao)壓(ya)(ya)電(dian)(dian)力設(she)備介(jie)損正(zheng)切(qie)值及電(dian)(dian)容量測試(shi)儀(yi)(yi)器(qi)(qi)(qi)。儀(yi)(yi)器(qi)(qi)(qi)為一體化(hua)結(jie)構(gou)，內置(zhi)介(jie)損測試(shi)電(dian)(dian)橋，可變頻調(diao)壓(ya)(ya)電(dian)(dian)源，升壓(ya)(ya)變壓(ya)(ya)器(qi)(qi)(qi)和SF6 高(gao)(gao)穩定度標(biao)準電(dian)(dian)容器(qi)(qi)(qi)。測試(shi)高(gao)(gao)壓(ya)(ya)源由(you)儀(yi)(yi)器(qi)(qi)(qi)內部的逆變器(qi)(qi)(qi)產生，
智能介質損(sun)耗測(ce)(ce)試(shi)儀參數(shu)，數(shu)據采(cai)(cai)集(ji)電路全部采(cai)(cai)用高壓穩(wen)定器件，采(cai)(cai)集(ji)板和采(cai)(cai)集(ji)計算機被鐵盒*浮空(kong)屏(ping)(ping)蔽，儀器外殼接地(di)屏(ping)(ping)蔽；另外使用了光導數(shu)據、浮空(kong)地(di)、大面積地(di)、單(dan)點(dian)地(di)、數(shu)字濾波等抗干擾技術，加之計算機對數(shu)百個(ge)電網周(zhou)期的數(shu)據進行處理，使測(ce)(ce)量(liang)結(jie)果穩(wen)定、精確、可靠。
變頻抗干(gan)擾(rao)介質損耗測(ce)試儀原理(li)，測(ce)量過程由(you)微處(chu)理(li)器控制(zhi)，只要選擇(ze)好合適的(de)測(ce)量方(fang)式(shi)，數據的(de)測(ce)量就可(ke)在(zai)微處(chu)理(li)器控制(zhi)下自動完成； 一(yi)體化(hua)機型，內(nei)附標(biao)準電容和(he)高壓電源，便于現場測(ce)試，減(jian)少現場接線。
異頻介質損耗測(ce)試儀(yi)參數(shu)，測(ce)量過程(cheng)由微處(chu)理(li)器(qi)控制，只(zhi)要選擇好合適的(de)測(ce)量方式，數(shu)據的(de)測(ce)量就可在微處(chu)理(li)器(qi)控制下自動完(wan)成(cheng)； 一體化(hua)機型，內(nei)附標準電(dian)容和高壓電(dian)源，便于現(xian)場(chang)測(ce)試，減少現(xian)場(chang)接線。
介質(zhi)損耗(hao)測試儀參數是一種先進(jin)的(de)測量(liang)(liang)介質(zhi)損耗(hao)（tgδ）和(he)電(dian)容容量(liang)(liang)（Cx）的(de)儀器，用于工頻(pin)高壓(ya)下(xia)，測量(liang)(liang)各種絕緣材(cai)料、絕緣套管、電(dian)力(li)電(dian)纜、電(dian)容器、互感器、變壓(ya)器等高壓(ya)設備的(de)介質(zhi)損耗(hao)（tgδ）和(he)電(dian)容容量(liang)(liang)（Cx）。
